由买买提看人间百态

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全部话题 - 话题: dibl
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d**l
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f***y
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2
https://news.mydrivers.com/1/661/661427.htm
目前全球最先进的半导体工艺已经进入7nm,下一步还要进入5nm、3nm节点,制造难度
越来越大,其中晶体管结构的限制至关重要,未来的工艺需要新型晶体管。来自中科院
的消息称,中国科学家研发了一种新型垂直纳米环栅晶体管,它被视为2nm及以下工艺
的主要技术候选,意义重大。
从Intel首发22nm FinFET工艺之后,全球主要的半导体厂商在22/16/14nm节点开始启用
FinFET鳍式晶体管,一直用到现在的7nm,未来5nm、4nm等节点也会使用FinFET晶体管
,但3nm及之后的节点就要变了,三星在去年率先宣布3nm节点改用GAA环绕栅极晶体管。
根据官方所说,基于全新的GAA晶体管结构,三星通过使用纳米片设备制造出了MBCFET
(Multi-Bridge-Channel FET,多桥-通道场效应管),该技术可以显著增强晶体管性
能,主要取代FinFET晶体管技术。
此外,MBCFET技术还能兼容现有的FinFET制造工艺的技术及设备,从而加速工艺开发及
生产。
前不久三星还公布了3nm工... 阅读全帖
u**u
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3
【 以下文字转载自 Travel 讨论区,原文如下 】
发信人: uwxu (DIBL), 信区: Travel
标 题: My travel/visa plan for Canada-Boston
发信站: The unknown SPACE (Thu May 29 14:02:31 2003) WWW-POST
Day 1: Drive to Montreal,(9 hr), sleep in Montreal
Day 2: sight-seeing in Montreal,
Day 3: sight-seeing in Montreal,drive to ottawa in afternoon, sleep in Ottawa
Day 4: visa appointment at 10 Am, sightseeing in Ottawa, get visa in the
afternoon (if possible), drive to Quebec (4 hr 42 mins), sleep in Quebec
Day 5-6: sight-seeing in Quebec
e******f
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4
【 以下文字转载自 ChinaNews 讨论区 】
【 原文由 dibl 所发表 】
http://www2.chinesenewsnet.com/gb/MainNews/Opinion/2003_6_17_0_33_46_228.html
杨子立辩护词:言论自由不是罪
Here is his writing about jail life.
http://dfn.org/voices/china/lukun-detention.htm
中国大陆最近刚刚对徐伟、杨子立、靳海科、张宏海等四人以“颠覆国 家政权罪”宣判
了重刑。北京市人民检察院的起诉书说,四人“秘密非 法成立了‘新青年学会’组织”
,“策划、实施颠覆国家政权、推翻社 会主义制度,四被告人的行为触犯了《中华人民
共和国刑法》第一百零 五条第一款之规定,已构成颠覆国家政权罪”。
(chinesenewsnet.com)
多维获悉杨子立4月17日辩护
词,现全文发表如下: (chinesenewsnet.com)
诸位法官: (chinesenewsnet.com)
感谢能给予我再一次开庭辩 护的机会,在此,我要对自 己做无罪辩
s*****o
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5
Vds一致吗?是否由于DIBL(drain induced barrier lowering)?
m*******e
发帖数: 119
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有可能是velocity saturation effect.因为你的bias voltage比较高,那些channel短
的可能有carrier velocity saturation,导致实际的Id降低,等效于Vt增加;channel
长的(比如10um)没有velocity saturation,这时Id与W/L成比例。这也解释为什么L很
大时,"Vt"就稳定下来,不再降低。你的这些channel长度和bias可能导致一部分L小的
器件受velocity saturation影响,一部分L大的器件不受velocity saturation影响。L
越小,由velocity saturation 导致的Id的降低越大。
你可以试试设比较低的Vgs 和 Vdsat,在很低电压的情况下,velocity saturation 也
许不会发生,这时Id会按W/L成比例变化。
其它可能的影响因素有:contact resistance (or series resistance) 和effective
channel length. Contact resistance 不会随L而改变,因... 阅读全帖
c*******n
发帖数: 628
7
附加说明:
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